1/4
Point Defects in Semiconductors. Vol.2: Experimental Aspects. (Springer Series in Solid-State Sciences 35) /LANNOO・BOURGOIN〈43936〉
¥1,300
残り1点
International shipping available
M.LANNOO/J.BOURGOIN Springer 295P 1983年(ハード・24cm)
表紙角折れ/★小口・頁縁等強シミ/★タイトル頁蔵書印
ISBN:3540115153
最近チェックした商品
同じカテゴリの商品
その他の商品
