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Point Defects in Semiconductors. Vol.2: Experimental Aspects. (Springer Series in Solid-State Sciences 35) /LANNOO・BOURGOIN〈43936〉

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M.LANNOO/J.BOURGOIN Springer 295P 1983年(ハード・24cm)
表紙角折れ/★小口・頁縁等強シミ/★タイトル頁蔵書印
ISBN:3540115153

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